相位仪是一种专门用于测量光束相对相位的仪器，它可以用来测量光束的相对相位差，可以测量通过光学器件传输的光的相对相位差，用以分析调节光学元件、检测器件以及分析光学系统的调谐和稳定性等各个方面。
相位仪有多种类型，包括干涉仪、Michelson干涉仪、Fizeau干涉仪、Sagnac干涉仪等。其中干涉仪是最常用的相位仪之一，干涉仪通过使两束或多束光束相互干涉来测量光束的相对相位差，而且测量精度很高，被广泛应用于光学领域。
相位仪是光学测量技术的关键部分，它可以实时测量光束的相对相位差，同时可以在光束传输过程中进行分析和调整。相位仪的应用范围很广，常见的应用场景包括激光干涉、激光测距、气体测压、光学表面检测、光学成像以及光学信号调制等方面。
